Интеллектуальная собственность

За свою историю Инновационный центр «Альфачип» разработал более 140 библиотек элементов стандартных ячеек и ячеек ввода-вывода, более 250 компиляторов практически для всех возможных архитектур схем памяти, более 100 сложно-функциональных блоков, а также ряд пакетов для автоматизации проектирования. Все разработки проводились в соответствии с техническими требованиями заказчиков и по самым современным кремниевым технологиям и IT-стандартам того времени. Некоторые результаты проектов превзошли существующие аналоги по ряду параметров, таких как: скорость, площадь, энергопотребление, устойчивость к экстремальным температурам и радиационному воздействию, что потребовало применения инновационных IT- и проектных решений. Ряд результатов был запатентован совместно с заказчиками. Патенты полученные в Европе, Южной Корее, Тайване, Японии, Китае и США:

• Method and apparatus for distortion analysis in nonlinear circuits (патент WO2004040509A1; US2004083437A1; US7007253B2);
• METHOD FOR SIMULATING CIRCUITS USING HARMONIC BALANCE, AND APPARATUS THEREFORE (патент ## WO9936872A1; WO9936872A8);
• Fast simulation of circuitry having soi transistors (патент ## AU2002356476A1; WO2004021252A1; US2004044510A1; US7127384B2);
• REFERENCE CIRCUIT (патент ## CN101052933A; CN101052933B; EP1810108A1; WO2006038057A1; WO2006038057A8; JP2008516328A; US2008048634A1; US7710096B2);
• Circuit for electrostatic discharge protection (патент ## AU2002315976A1; WO03081742A1; US2005231878A1; US7154719B2);
• Electrostatic discharge protection circuitry and method of operation (патент ## CN1628385A; CN100355072C; EP1527481A2; JP2005536046A; JP4322806B2; KR20050026915A; KR101006825B1; TW200418164A; TWI282161B; WO2004015776A2; WO2004015776A3; US2004027742A1; US6724603B2).

Недавно разработанное, но еще не запатентованное ноу-хау компании в области информационных и кремниевых технологий включает в себя:

• методы разработки компиляторов памяти и связанный с ними программный комплекс для поддержки разработки компиляторов памяти, направленных на достижение заданного параметрического коэффициента выхода, что значительно сокращает время и повышает качество разработки;
• "кремниевая верификация" в виде универсальной и гибкой архитектуры тестовых микросхем со стандартизированным интерфейсом, что обеспечивает значительное сокращение времени разработки тестовых микросхем, многократное использование вспомогательного тестового оборудования, автоматизацию измерения многих параметров, а также значительное сокращение времени разработки тестового программного обеспечения.